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半導体バーンイン装置(DC、RF)
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半導体バーンイン装置(DC、RF)

BURN-IN TESTING SYSTEM

本装置は高周波デバイス(以下FET)の通電試験装置です。
信頼性評価や量産時のスクリーニング用にRF通電、またはDC通電を行い、FET実装治具(以下治具)にFETを実装し、高温下にてバーンイン試験を実施することができます。
CH数やFETパッケージ、試験条件に合わせたシステム構築をご提案致します。